Retrouvez-nous à la journée technique Métrologie du CFM

Optimisation des périodicités d'étalonnage

La gestion d'un parc d'instruments de mesure est une tâche dynamique qui doit évoluer en fonction des besoins de l'entreprise. Le processus de surveillance est au coeur de cette activité, en particulier pour les instruments critiques qui doivent être étalonnés.
La métrologie fournit des méthodes éprouvées comme la méthode Opperet, qui permettent de définir précisément les périodicités d'étalonnage et ainsi d’optimiser les coûts associés.
Cette journée technique verra intervenir des experts du domaine qui vous donneront toutes les clés pour comprendre et savoir appliquer ces méthodes. Des industriels témoigneront sur leur expérience.

Contenu

  • 9h00 Accueil des participants

  • 10h10 Gestion d'un parc d'instruments

  • 10h40 La méthode Opperet

  • 11h30 Les méthodes d'optimisation de la FD X 07-014

  • 13h30 Quelles données utiliser pour optimiser les périodicités d'étalonnage ?

  • 14h00 La surveillance de la dérive des enceintes thermostatiques

  • 14h50 Les documents métrologiques passés pour optimiser les périodicités d'étalonnage

Objectifs

  • La conformité de vos points de mesure

Qui devrait participer ?